Pentru sistemele de inspecție cu viziune AOI de ultimă generație-, planeitatea este mult mai mult decât un simplu indicator de acceptare din fabrică. Acesta servește ca punct de referință de bază pentru întregul set de poziționare optică, achiziție de imagini și măsurare dimensională. Mulți producători de echipamente de viziune întâmpină o problemă dificilă în timpul asamblarii și punerii în funcțiune: parametrii de planeitate îndeplinesc specificațiile din desene, totuși, distorsiunea imaginii în gradient și deviația repetată a calibrării coordonatelor apar după întregul ansamblu al mașinii. Cauza principală nu constă, de obicei, în software-ul optic sau în camere, ci decalajul de calitate în procesele de lapare a bazei. Piatra obișnuită realizează doar o planeitate macro acceptabilă, în timp ce AOI-de vârf necesită un punct de referință planar la scară nanometrică, continuu și microscopic, pe întreaga arie-. Acesta este motivul principal pentru care bazele de granit cu precizie devin componente standard pentru echipamentele de viziune premium.
1. Lepătură de precizie: diferențierea planeității macro de -toate zonele de referință micro
Prelucrarea convențională a pietrei se concentrează doar pe planeitatea macroscopică a suprafețelor mari, ignorând ondulațiile locale minore și ondulațiile de lepătură. Acest lucru poate fi acceptabil pentru dispozitivele de inspecție generală, dar sistemele de viziune AOI captează imagini pixel cu pixel. Ondurile minuscule de pe suprafața de bază se traduc în abateri ale căii optice, rezultând o precizie inconsecventă a măsurătorilor în diferite zone din câmpul vizual.
Susținut de meșteri cu peste treizeci de ani de experiență în șlefuirea manuală și polizoare CNC mari, granitul negru UNPARALLELED® adoptă o șlefuire progresivă de precizie stratificată. Procesul de prelucrare nu este pur și simplu netezirea suprafeței, ci corectarea continuă a micro-topografiei pe întregul semifabricat de piatră pentru a elimina ondulațiile locale și diferențele de înălțime. Slefuirea este verificată în faze separate, trecând de la șlefuirea brută și șlefuirea semi-finisată la șlefuirea de ultra-la scară nanometrică de precizie. Întreaga suprafață de lucru a bazei formează un plan de referință continuu și uniform. Chiar și pentru baze de-dimensiuni mari, planeitatea totală-consecventă poate fi menținută pentru a satisface-scanarea și imagistica cu gamă largă de echipamente de viziune și pentru a preveni golurile de precizie în diferite domenii de inspecție.
2. Sinergia materiilor prime și a procesului de șlefuire pentru a evita revenirea după-deformare a șlefuirii
Unii producători adoptă piatră cu stres intern neeliberat. Chiar dacă planeitatea îndeplinește temporar standardele imediat după lepare, planul de referință revine treptat și se deformează după plasare sau expunere la creșterea temperaturii echipamentului și vibrații, provocând deteriorarea rapidă a planeității. Un astfel de rebound de deformare este greu de detectat rapid pe echipamentul de viziune și va crește încet ratele de inspecție false.
UNPARALLELED efectuează-imbatranire pe termen lung și plasare statică pe semifabricate de granit pentru a elibera complet stresul intern nativ. Prelucrarea și șlefuirea sunt apoi efectuate pas cu pas, cu cicluri de stabilizare rezervate între fiecare procedură de lucru. Faza finală de lepătură ultra-de precizie începe numai după ce substratul atinge o stare stabilă. După șlefuire, piesa de prelucrat este menținută statică și remăsurată într-un atelier cu temperatură constantă-și rezistent la șocuri. Se va trece la inspecția din fabrică numai după ce nu este confirmată nicio tendință de rebound de planeitate. Acest proces garantează că planul de referință finit rămâne stabil după lepare și nu are loc nicio revenire la planeitate în timpul funcționării AOI pe termen lung-, protejând standardul de inspecție vizuală continuă.
3. Verificare metrologică în timpul fluxului de lucru de lapă, în loc de eșantionare aleatorie la fața locului a pieselor finite
Planeitatea fiabilă se bazează pe instrumente de inspecție de precizie potrivite. Multe fabrici de procesare efectuează doar verificări simple la fața locului asupra produselor finite cu puncte de măsurare limitate, nereușind să capteze defectele locale pe suprafețele de lucru. Bazele-de ultimă generație AOI necesită o verificare completă-zonă, iar inspecția metrologică trebuie să fie implicată în fiecare etapă a stropirii.
Urmând principiul conform căruia ceea ce nu poate fi măsurat nu poate fi fabricat, UNPARALLELED folosește instrumente de metrologie de clasă mondială, inclusiv interferometre laser, nivele electronice elvețiene WYLER și cadrane germane Mahr pentru scanare continuă în mai multe-puncte în timpul șlefuirii, pentru a surprinde ondulații subtile pe suprafețele de lucru. Toate instrumentele de măsurare dețin certificate de calibrare valabile, iar valorile de măsurare pot fi urmărite către institutele naționale de metrologie. Planeitatea este evaluată în conformitate cu standardele globale de metrologie de precizie, cum ar fi DIN, ASME și JIS. În loc să se concentreze doar pe citiri cu un singur-punct, conturul general al suprafeței de lucru este evaluat pentru a se asigura că rezultatele lapăturii satisfac poziționarea în coordonate de înaltă-precizie a echipamentelor de viziune premium.
4. Micro-calitate a suprafeței suprafețe adaptate la asamblarea modulelor optice
Baza AOI acționează nu numai ca o platformă de rulment, ci și ca un etalon de asamblare comun pentru suporturi optice, trepte de motor liniare și ansambluri de surse de lumină. Micro-zgârieturile, gropile și proeminențele de particule de pe suprafața de bază slăbesc montarea modulelor, creând goluri de asamblare neuniforme și introducând indirect deviații optice. Lepuirea regulată tinde să lase texturi de prelucrare care duc la o potrivire slabă a componentelor după asamblare.
Lepuirea de ultra-precizie oferă o suprafață densă cu rugozitate scăzută și reduce micro-defectele de pe suprafață. Granitul fără egal are o textură densă și o porozitate scăzută. După șlefuirea de precizie, suprafața de lucru nu conține particule libere. Ansamblurile optice și etapele de mișcare se pot potrivi strâns cu planul de referință în timpul asamblarii. Suprafața de contact uniformă și stabilă pentru asamblare asigură coordonatele de montare unificate ale întregului sistem de viziune, reduce erorile suplimentare aduse de asamblare și menține camerele, etapele de mișcare și piesele de prelucrat sub testare la poziții optice relative prestabilite pentru a sprijini achiziția de imagini de înaltă-precizie.
5. Suprafața pe toată-zonă pentru baze de-dimensiuni mari pentru a satisface cerințele AOI de-generație largă-format
Echipamentele AOI de ultimă generație de-generație-înaltă oferă lățimi de scanare extinse. Controlul planeității întregii-are a bazelor de-dimensiuni mari devine exponențial mai dificil. Piesele mari de piatră tind să se deformeze la ambele capete sau să se scufunde în mijloc în timpul lepuirii, ceea ce face dificil de realizat planeitatea uniformă pe întregul panou. Bazele îmbinate suferă din cauza înălțimii treptelor la îmbinări, distrugând direct reperul optic.
Cu polizoare mari de ultra-precizie și o capacitate de prelucrare de 20-metru cu o singură-piesă, UNPARALLELED realizează lepuirea integrată a bazelor monolitice mari de granit și elimină defectele de referință cauzate de îmbinare. Schimbările de contur-pe distanțe lungi sunt monitorizate în timp real în timpul șlefuirii pentru a controla dreptatea și planeitatea pieselor lungi, asigurând repere continue și stabile de la un capăt la altul al meselor mari. Este potrivit pentru inspecția de ambalaje de PCB și semiconductori cu format larg-și menține valori de referință plane stabile în timpul scenariilor de scanare cu rază mare.
Concluzie
Pentru echipamentele de viziune AOI de ultimă generație, cerințele de planeitate depășesc cu mult respectarea specificațiilor hârtiei. Ceea ce este necesar este un plan de referință stabil-pe toată suprafața, continuu,-pe termen lung, cu micro-topografie excelentă. Cu șlefuire de precizie progresivă, atenuare preventivă a tensiunilor, verificare completă-metrologiei procesului, calitate superioară a micro-suprafețelor și șlefuire integrată pentru piese mari de prelucrat, bazele de granit fără egal transformă specificațiile de planeitate în performanțe palpabile. Acestea îndeplinesc cerințele stricte de asamblare și imagini ale echipamentelor de inspecție vizuală{10}}de înaltă calitate și oferă suporturi de referință fiabile pentru AOI premium în industriile semiconductoarelor și PCB.